紫外輻照計(jì)探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)，適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
操作說明：
1、紫外線源（太陽，紫外燈等）的輻射強(qiáng)度測(cè)量測(cè)量紫外線源的紫外強(qiáng)度時(shí)，探測(cè)器方向正對(duì)紫外線源，按下“POWER”鍵，開啟儀器，選擇適合的測(cè)試量程即可。測(cè)試太陽光到達(dá)地面的紫外線輻射強(qiáng)度，測(cè)量值為712 uW/cm2。
2、太陽隔熱膜、隔熱玻璃等對(duì)紫外線的阻隔性能測(cè)試太陽膜或隔熱玻璃等的紫外線阻隔性能測(cè)試時(shí)，應(yīng)分兩步測(cè)量：
第一步：測(cè)量紫外源的輻射強(qiáng)度：
紫外源可選太陽光或紫外燈等。先測(cè)量紫外源的紫外線的輻射能功率密度UV1 W 。
第二步：測(cè)量被太陽膜阻隔后的紫外源的輻射強(qiáng)度:
保持紫外源與儀器間距離不變，在儀器與紫外源之間插入待測(cè)太陽膜或隔熱玻璃，被測(cè)物需緊貼儀器的測(cè)量端面，以免受外界光的影響。記下有太陽膜時(shí)紫外線的輻射能功率密度UV2 W 。
則紫外線的阻隔率= UV2 UV1 100%-W /W
由第一步得UV1 W =372 μW/cm2
由第二步得UV2 W =12 μW/cm2
紫外線的阻隔率= UV2 UV1 100%-W /W =100%-12/372 = 96.77%
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